Nikel Bazlı Alaşımlarda Karbür Analizine başlamadan önce, incelenecek numunenin mutlaka metalografik numune hazırlama sürecinden geçmiş olması gerekmektedir. Bu süreçlerde kullanılan metalografik numune hazırlama cihazlarının ve sarf malzemelerinin kalitesi ve performansı, hedeflenen amaçları karşılamak için son derece önemlidir. Numune hazırlama ekipmanları ve sarf malzemeleri konusunda piyasada önemli bir yere sahip olan PRESI ' yi bu alandaki değerli müşterilerimize gönül rahatlığıyla öneriyoruz. Bu bağlamda, kirlilik testine tabi tutulacak numune, incelemeye başlamadan önce aşağıda belirtilen üç temel adımdan geçmelidir. PRESI gibi ileri teknolojiye sahip araçlarla doğru numune hazırlığı sağlayarak, Nikel Bazlı Alaşımlarda Karbür Analizi süreçlerimizde kesin ve güvenilir sonuçlar garanti ediyoruz.
BİRİNCİ ADIM
KESME
Zımparalama ve parlatma işlemlerinde sarf malzemesini ve harcanan zamanı minimum seviyeye indirmek için, numunenin kesme işlemine özel bir özen göstermek büyük önem taşır. Kesme diski, kesilecek numunenin malzeme türüne ve sertlik değerine uygun olarak seçilmelidir. Sadece doğru kesme diski kullanmakla kalmayıp, işlemi dikkatli bir şekilde gerçekleştirmek, sonuçları muhteşem kılar. Daha fazla bilgi için, kesme diskleriyle ilgili detaylara buradan ulaşabilirsiniz. Bu şekilde, numune hazırlığınızı mükemmelleştirir ve zaman tasarrufu sağlayarak verimliliği artırırsınız.
İKİNCİ ADIM
BAKALİT ALMA
Bakalit alma işlemi, metalografik numunelerin hazırlanmasında kullanılan önemli bir adımdır. Bu işlem, numunenin sıcak bir reçine veya polimer matris içine yerleştirilmesini içerir. Sıcak bakalit almanın ana amacı, numunenin yüksek sıcaklıkta ve basınç altında stabilize edilerek optimum kesme, zımparalama ve polisaj işlemleri için uygun bir yüzey elde etmektir. Bakalit alma işlemi, belirli bir sıcaklık ve basınç koşullarının sağlanmasını gerektirir. Bu nedenle, uygun bir sıcak bakalit alma cihazının kullanılması önemlidir. Sıcak bakalit alma cihazları, istenilen sıcaklık değerlerini sağlayabilen hassas kontrol sistemleri ile donatılmış olmalıdır. Ayrıca, farklı numune boyutlarına ve şekillerine uygun değiştirilebilir kalıpların bulunması da önemlidir.
Sıcak ve soğuk bakalit alma cihazları veya sarf malzemeleri hakkında detaylı bilgi için ilgili sözcüğe tıklayabilirsiniz.
ÜÇÜNCÜ ADIM
ZIMPARA VE PARLATMA
Numune zımpara parlatma işlemi, metalografik analiz için önemli bir adımdır. Bu işlem, numunenin yüzeyini düzleştirerek optik mikroskobik inceleme için uygun bir yüzey hazırlar. Numune parlatma işlemi, çeşitli aşamalardan oluşur ve dikkatli bir şekilde yapılması gereken bir süreçtir. Numune zımpara parlatma için ilk adım, numunenin kesme işleminden sonra elde edilen yüzeyin pürüzsüzleştirilmesidir. Bu aşamada, numune önce kaba zımparalarla işlenir ve ardından daha ince zımparalarla işlemeye devam edilir. Bu aşamada, doğru zımpara türü, numunenin malzeme özelliklerine ve boyutuna uygun seçilmelidir.
Zımpara ve parlatma keçeleri için detaylı bilgiye buradan ulaşabilirsiniz.
NİKEL BAZLI ALAŞIMLARDA KARBÜR ANALİZİ NUMUNE METALOGRAFİK NUMUNE HAZIRLAMA ADIMLARI
• İncelenecek numunenin sertlik değerine bağlı olarak uygun bir reçine kesme diski kullanılarak ana malzemeden bir kesit numunesi alınır.
• Kesme işleminden sonra numune, sıcak bakalit cihazı kullanılarak bir kalıba alınır.
• Bakalit işlemi sonrasında, P320, P600, P1200 tane boyutlarına sahip SiC zımparaları kullanılarak numune sırasıyla zımparalanır.
• Zımparalama işleminden sonra, 3μ ve 1μ tane boyutlarına sahip elmas süspansiyonlar ve parlatma keçeleri kullanılarak numune parlatılır.
• Hazırlanan ürün mikroskop altında detaylı olarak incelenir.
Bu adımlar, numunenin doğru bir şekilde hazırlanması ve metalografik analiz için uygun bir yüzeyin elde edilmesi için önemlidir. Kesme, bakalit alma, zımparalama ve parlatma aşamaları, numunenin daha sonra mikroskop altında incelenmesine olanak sağlar. Doğru ekipmanların kullanılması ve uygun tane boyutlarının seçilmesi, güvenilir sonuçlar elde etmek için kritik öneme sahiptir.
Gama ana partiküllerini ve primer karbürleri gösteren üç nikel bazlı numune şekil 1 ve Şekil 2 de gösterilmiştir.
Şekil 1. Numune 6'da 13.84 mikron (0.1691 mikron / piksel) olarak bulunan en büyük parçacığı gösteren orijinal görüntünün bir kısmı
Şekil 2. Numune 3'te 27.26 mikron (0.1691 mikron / piksel) olarak bulunan en uzun stringer.
Tüm parçacıklar ve partiküller arası bölge, dairesel çapları için ölçülmüştür. Gama ana parçacıklarının ortalama serbest yolu da değerlendirildi. Denuded bölgeleri kendi alanları için ve ayrıca genel alan yüzdeleri için ölçülmüştür.
Şekil 3 (Analiz Raporu)
Şekil 6 : LV100ND Şekil 7 : Motorize Sistem Şekil 8 : Clemex Yazılımı
İnternet sitemizde çerez kullanılmaktadır. Çerezler hakkında detaylı bilgi için Çerez Politikası’nı inceleyiniz. Devam etmeniz halinde çerez kullanımına izin verdiğinizi kabul edeceğiz.