HAZIRLIK VE UYGULAMA YÖNTEMİ

Pirinç malzemelerde, gerekli metalografik işlemlerden sonra uygun dağlayıcı ile dağlanarak aşağıdaki resimlerdeki gibi faz yapısı ve tane yapısı elde edilir. Bu süreçlerde kullanılacak olan metalografik numune hazırlama cihazlarının ve sarf malzemelerinin ürün kaliteleri ve istenilen amaç doğrultusunda gösterdikleri performans çok önemlidir. Numune hazırlama cihaz ve sarf malzemelerinde piyasada ciddi bir yeri olan PRESI bizim bu alandaki siz değerli müşterilerimize önerimiz. Bu bağlamda Pirinç Malzmemelerde Tane Boyutu Analizi yapılacak olan numune incelemeye başlanmadan önce aşağıda belirtilen 4 ana adımdan geçirilmelidir. İnceleme bakımından mikroskobun kapasitesine göre aydınlık alan, karanlık alan, DIC, polarize gibi farklı çalışma tekniklerinde incelemeler yapılabilir.

 

 

BİRİNCİ ADIM

KESME

Zımparalama ve parlatma işlemlerinde sarf malzemesini ve harcanan zamanı minimum seviyeye indirmek için, numunenin kesme işlemine özel bir özen göstermek büyük önem taşır. Kesme diski, kesilecek numunenin malzeme türüne ve sertlik değerine uygun olarak seçilmelidir. Sadece doğru kesme diski kullanmakla kalmayıp, işlemi dikkatli bir şekilde gerçekleştirmek, sonuçları muhteşem kılar. Daha fazla bilgi için, kesme diskleriyle ilgili detaylara buradan ulaşabilirsiniz. Bu şekilde, numune hazırlığınızı mükemmelleştirir ve zaman tasarrufu sağlayarak verimliliği artırırsınız.

 

 

 

 

İKİNCİ ADIM

BAKALİT ALMA

Bakalit alma işlemi, metalografik numunelerin hazırlanmasında kullanılan önemli bir adımdır. Bu işlem, numunenin sıcak bir reçine veya polimer matris içine yerleştirilmesini içerir. Bakalit alma işleminin ana amacı, numunenin yüksek sıcaklıkta ve basınç altında stabilize edilerek optimum kesme, zımparalama ve polisaj işlemleri için uygun bir yüzey elde etmektir. Bakalit alma  işlemi, belirli bir sıcaklık ve basınç koşullarının sağlanmasını gerektirir. Bu nedenle, uygun bir bakalit alma cihazının kullanılması önemlidir. Bakalit alma cihazları, istenilen sıcaklık değerlerini sağlayabilen hassas kontrol sistemleri ile donatılmış olmalıdır. Ayrıca, farklı numune boyutlarına ve şekillerine uygun değiştirilebilir kalıpların bulunması da önemlidir.

Sıcak ve soğuk  bakalit alma cihazları veya sarf malzemeleri hakkında detaylı bilgi için ilgili sözcüğe tıklayabilirsiniz.

 

 

 

ÜÇÜNCÜ ADIM

ZIMPARA VE PARLATMA

 

Numune zımpara parlatma işlemi, metalografik analiz için önemli bir adımdır. Bu işlem, numunenin yüzeyini düzleştirerek optik mikroskobik inceleme için uygun bir yüzey hazırlar. Numune parlatma işlemi, çeşitli aşamalardan oluşur ve dikkatli bir şekilde yapılması gereken bir süreçtir.

Numune zımpara parlatma için ilk adım, numunenin kesme işleminden sonra elde edilen yüzeyin pürüzsüzleştirilmesidir. Bu aşamada, numune önce kaba zımparalarla işlenir ve ardından daha ince zımparalarla işlemeye devam edilir. Bu aşamada, doğru zımpara türü, numunenin malzeme özelliklerine ve boyutuna uygun seçilmelidir.

Zımpara ve parlatma keçeleri için detaylı bilgiye buradan ulaşabilirsiniz.

 

 

 

DÖRDÜNCÜ ADIM

DAĞLAMA İŞLEMİ

 

 

Çeliğin mikro yapısını mikroskopta görünür hale getirebilmek için dağlama işlemi yapılması gerekmektedir. Dağlayıcılar incelenecek numunenin malzemesine göre alkol, saf su, gliserin, asit gibi malzemelerin karışımlarından elde edilir. Dağlama süresi numuneye ve dağlayıcıya bağlı olarak değişir.

 

 

 

 

Resim 1: 200X optik büyütme aydınlık alan pirinç malzeme tane boyutu görüntüsü
 

 

 

Resim 2: 200X optik büyütme DIC filtresi pirinç malzeme tane boyutu görüntüsü

 

 

Resim 3: 200X optik büyütme karanlık alan pirinç malzeme tane boyutu görüntüsü

 

 

Uygulamada dikkat edilmesi gereken noktalar,

  1. Numunede, hazırlama yönteminden kaynaklı çizikler ne kadar az olursa o kadar kesin sonuçları kolayca alacağınız kesindir. Bu sebeple metalografik numune hazırlama adımları dikkatle ve özenle yapılmalıdır.
  2. Ölçümlerinizden emin olmak için, cihaz ve yazılım kalibrasyonlarının doğru, yazılımın ölçüm sonuçlarının kontrol edilebilir olduğundan emin olunmalıdır.

 

 

 

 

 



UYGULAMADA DİKKAT EDİLMESİ GEREKEN NOKTALAR

  1. Numunede, hazırlama yönteminden kaynaklı çizikler ne kadar az olursa o kadar kesin sonuçları kolayca alacağınız kesindir.
  2. Ölçümlerinizden emin olmak için, cihaz ve yazılım kalibrasyonlarının doğru, yazılımın ölçüm sonuçlarının kontrol edilebilir olduğundan emin olunmalıdır.

 

 

 

 



ANALİZ SONUÇLARI

Tane boyutu analizi manuel ya da otomatik olarak yapılabilir. Otomatik analizde yüzlerce taneyi taradığımız için daha doğru sonuç elde ederiz.

                                                                       Resim 4: 500X optik büyütme manuel tane boyutu analizi  

 

 

 

 

 

 

Resim 5: 200X optik büyütme otomatik tane boyutu analizi (ASTM E-112)

 

 

 

 

 



KULLANILAN EKİPMANLAR

Her tür üstten aydınlatmalı endüstriyel ışık mikroskobu ile bu yapıların görüntülenmesi mümkün iken farklı tiplerdeki mikroskoplar numunenin hazırlanması veya numune yüzeyinde gezinme kolaylığı gibi farklı avantajları barındırmaktadırlar. Kullanıcıların kullanım pratiği, numune çeşitliliği ve şekline göre uygun mikroskopların seçimi her firma ve kullanıcıya göre farklılık göstermektedir.

 

Farklı yazılımların kabiliyetleri ise kullanıcıya kolaylık, hız ve doğruluk anlamında önemli farklar sağlamaktadır. Kullanıcılara yol gösteren ve ölçümlerin tek tek de doğrulamasının yapılabildiği yazılımlar, analiz şeklinin de tespit edilerek kontrol edilmesi açısından önemlidir.

 

 

                                 

 

 

Resim 6 : Nikon MA100N ters metal mikroskobu                                                 Resim 7 : Clemex Vision Lite görüntü analiz sistemi

 

 

Ekipman seçiminde dikkat edilmesi gereken noktalar,

 

  1. Mikroskobunuzun çözünürlük değerleri belirleyici bir başka değerdir. Eğer mikroskobun göremediği mikro yapılar var ise yazılımınızın bunu görerek doğru hesaplaması mümkün değildir.
  2. Bazı yazılımlar modül eklenerek standartlara uygun sonuçları vermekle beraber renk yakalama özelliği olan tüm yazılımlarla otomatik analiz yapmak mümkündür.
  3. Yazılımın hangi standartların, hangi metodlarını kullanarak ölçüm yaptığını öğrenmek ve mümkünse bunları doğrulamak önemlidir.
  4. Yazılımlarla uyumlu çalışan kameralar açısından kameranın mega pikselinden daha önemli olan detay sensör kalitesidir. CCD veya CMOSIS gibi sensörlerde detay görmek daha mümkünken, özellikle bu sensörlerde ekstra yüksel piksel sayısına sahip kameralar görüntü analizinde kullanılmayan kalıntı piksel, veri işleme sırasında görüntü yavaşlaması ve bilgisayarda donma gibi problemler oluşturabilmektedir.
  5. Arka arkaya alan tarayarak toplam bir analiz sonucu çıkartan ve bu konuda size yol gösteren yazılımlar, yukarıda belirtilen sebeplerden, en doğru sonuca en kolay biçimde ulaşmak açısından önemlidir.