Hasar; bir yapının veya yapı elemanının kendisinden beklenen işlevleri yerine getiremez hale gelmesidir. Bir elemanda hasar, yapının tasarım, imalat, montaj ve işletme safhalarının birinde yapılan teknolojik hata nedeniyle ortaya çıkar. Hasar analizi; bir parçanın veya sistemin hasara uğrama nedenini ve hasarın karakterizasyonunu belirlemede kullanılan bir yöntemdir. Genellikle hasar analizinin yapılmasındaki genel amaç benzer hasarın tekrarını önlemektir. Günümüz teknolojisinde hasar analizi ve önlenmesi mühendislik dallarının tümünün ilgi alanına girmiştir.
Hasar analizi arıza mekanizmasının kök nedenini belirleyerek, tekrar eden vakaları engellemek için önleyici tedbirler sunar. Üretici veya işletmeci olmanız fark etmeksizin, hasarların neden olduğu aksaklık sürecinizi ve karlılığınızı etkileyebilir. En kötü ihtimallere bakıldığında ise hasarlar çalışanlar, toplum ve çevre için risk oluşturabilir. Bu durum, marka itibarınızın zarar görmesine ve hukuki davalara neden olabilir.
Genellikle imalat, metalürji, maden ve kimya sanayilerinde sıkça karşılaşılan hasar nedenleri Tablo 1’de verilmektedir
İş makinesi kepçe dişlisi hasar analizinde hatalı aşamanın ısıl işlem olduğu tespit edildi. Aşağıdaki resimlerde iki farkı ısıl işlem firmasının aynı parçaya uyguladığı ısıl işlemin neticesi görülmektedir. Isıl işlem prosesi doğru olduğunda parça sünek, hatalı olduğunda gevrek kırılmaktadır ve direkt olarak bu durum kepçe dişlisinin ömrünü belirlemektedir. Aşağıda gevrek ve sünek olarak kırılan malzemelerin sem de çekilmiş görüntüleri yer almaktadır.
Resim 1 : Hatalı ısıl işlem sonucu gevrek kırılma görüntüsü
Resim 2 : Hatalı ısıl işlem sonucu gevrek ve sünek kırılma görüntüsü
Resim 3 :Doğru ısıl işlem sonucu sünek ve gevrek kırılma görüntüsü
Resim 4 :Doğru ısıl işlem sonucu sünek kırılma görüntüsü
Her türlü taramalı elektron mikroskobu ile bu çalışmayı yapmak mümkün olmakta beraber büyük tip sem cihazları gerek maliyetleri gerekse kullanımlarının zahmetli olması açısından yeni arayışlara kapı aralamıştır. Bu bağlamda masa tipi elektron mikroskopları hem sanayi kuruluşlarının hem de üniversitelerin mercek altına aldığı, maliyet, kullanım kolaylığı ve görüntü netliği bakımından büyük tipleri aratmayan cihazlardır. Biz çalışmamızda JEOL JCM 7000 Benchtop Sem kullandık.
Resim 5 : Jeol JCM 7000 Neoscope Benchtop Sem
Ekipman seçiminde dikkat edilmesi gereken noktalar
Sonuçların Değerlendirilmesi
Hasarlı bölgenin elektron mikroskobu ile incelenmesi neticesinde kırılma yüzeyi hakkında topladığımız bilgiler bize, yapılan proseslerin doğru olup olmadığı hakkında ya da hatanın hangi prosesten kaynaklandığı hakkında net ipuçları veriyor.
İnternet sitemizde çerez kullanılmaktadır. Çerezler hakkında detaylı bilgi için Çerez Politikası’nı inceleyiniz. Devam etmeniz halinde çerez kullanımına izin verdiğinizi kabul edeceğiz.