Taramalı elektron mikroskopları (SEM'ler) yalnızca araştırma için değil, aynı zamanda kalite güvencesi ve üretim yerleri için de vazgeçilmez araçlardır.
Bu sahnelerde aynı gözlem süreçlerinin tekrar tekrar yapılması ve sürecin verimliliğinin artırılması ihtiyacı doğmuştur.
JSM-IT510 ile, yeni eklenen Basit SEM işlevi, kullanıcıların SEM gözlemi için gerekli olan "manuel tekrarlı işlemi ona bırakmasını" sağlayarak SEM gözlemini daha verimli ve kolay hale getirir.
JSM-IT510 serisi aşağıdaki 4 konfigürasyonda donatılabilir: BU (Temel Ünite) / A (Analiz) / LV (Düşük Vakum) / LA (Düşük Vakum ve Analiz).
BU (Temel Birim) |
Yüksek vakum altında gözlem için temel tip |
---|---|
A (Analiz) |
Analiz tipi, EDS standart olarak BU'ya eklenir |
AG (Düşük Vakum) |
Yüksek ve düşük vakum işlemi için Düşük Vakum tipi. YATAK dahildir. |
LA (Düşük Vakum ve Analiz) |
Düşük vakumlu tip, yüksek ve düşük vakumlu çalışma için, BED ve EDS dahildir. |
Çözünürlük |
|
---|---|
Fotoğraf büyütme |
|
Ekran büyütme |
|
Elektron silahı |
|
hızlanma voltajı |
|
sonda akımı |
|
AG basınç |
|
Objektif lens açıklığı |
|
Otomatik fonksiyon |
|
Maksimum numune |
|
numune aşaması |
|
Görüntü modu |
|
Görüntü boyutu |
|
Fotoğraf yardımı işlevi |
|
Operasyon destek |
|
işletim sistemi |
|
gözlem monitörü |
|
EDS işlevleri* 2 |
|
Veri yönetimi |
|
Rapor oluşturma |
|
Dil anahtarı |
|
Vakum sistemi |
|
İnternet sitemizde çerez kullanılmaktadır. Çerezler hakkında detaylı bilgi için Çerez Politikası’nı inceleyiniz. Devam etmeniz halinde çerez kullanımına izin verdiğinizi kabul edeceğiz.